本文分享自华为云社区《移植案例与原理 - XTS子系统之应用兼容性测试用例开发》，作者：  zhushy 。

XTS（X Test Suite）子系统是OpenHarmony生态认证测试套件的集合，当前包括：

• acts（application compatibility test suite）应用兼容性测试套件，看护北向HAP兼容、OpenHarmony开发API兼容。

• hats（Hardware Abstraction Test Suite ）硬件抽象测试套，看护HDI层接口。

• dcts（Distributed Compatibility Test Suite ）分布式兼容性测试套，看护分布式兼容（待上线）

在移植芯片开发板后，需要运行应用兼容性测试套件。对于大部分工程师，是不需要开发ACTS测试用例的。但是了解一下这些知识，在问题定位等会带来极大的方便。本文主要介绍下ACTS应用兼容性测试用例开发编译。使用的编程语言为C语言。

1、XTS测试套件目录

XTS的ACTS应用兼容性测试套件目录test\xts\acts，器目录如下，包含各个子系统的测试用例源代码及测试工具代码。

/test/xts├── acts    # 测试代码存放目录│   └── aafwk      #  标准系统的 元能力框架子系统 测试用例源码存放目录│   └── aafwk_lite # 轻量系统、小型系统的 元能力框架 子系统测试用例源码存放目录│   └── communication     #  标准系统的 communication子系统 测试用例源码存放目录│   └── communication_lite# 轻量系统、小型系统的 communication 子系统测试用例源码存放目录|   └── .......    # 其他子系统的测试用例源码存放目录│   └── BUILD.gn   # 标准系统测试用例编译配置│   └── build_lite # 轻量系统、小型系统测试用例编译配置存放目录│└── BUILD.gn      # 轻量系统、小型系统测试用例编译配置└── tools   # 测试工具代码存放目录

2、测试用例级别、粒度和类型

测试用例分为5个级别，分布为Level0、Level1、Level2、Level3、Level4，这几个宏定义在文件test\xts\tools\lite\hctest\include\hctest_internal.h。对这几个级别的解释可以从文章尾部的参考站点上可以了解。

/**  * test case level  */enum TestRank {    Level0 = 1,    Level1 = 2,    Level2 = 3,    Level3 = 4,    Level4 = 5};

用例粒度分为LargeTest、MediumTest和SmallTest，同样在文件test\xts\tools\lite\hctest\include\hctest_internal.h中定义。

/** * test size */enum TestSize {    SmallTest = 1 << 4,    MediumTest = 2 << 4,    LargeTest = 3 << 4};

测试类型分为Function、Performance、Power、Reliability、Security、Global、Compatibility、User、Standard、Safety和Resilience。宏定义如下，具体含义见参考站点中链接。

/** * test type */enum TestType {    Function = 1 << 8,    Performance = 2 << 8,    Power = 3 << 8,    Reliability = 4 << 8,    Security = 5 << 8,    Global = 6 << 8,    Compatibility = 7 << 8,    User = 8 << 8,    Standard = 9 << 8,    Safety = 10 << 8,    Resilience = 11 << 8};

3、C语言用例开发编译指导

根据测试系统选择测试框架和对应测试用例语言。系统类型和测试框架、开发语言对应关系如下：

我们主要看下轻量系统产品用例开发。轻量系统测试使用的测试框架是hctest，hctest测试框架支持使用C语言编写测试用例，是在开源测试框架unity的基础上进行增强和适配。

3.1 用例目录规范

我们上文已经看到了ACTS的目录， 测试用例存储到test/xts/acts仓中。假如我们在一个名为subsystem_lite的子系统中为module_hal部件开发用例，目录如下：

├── acts| └── ......│ └── subsystem_lite│ │ └── module_hal│ │ │ └── BUILD.gn│ │ │ └── src│ └──build_lite│ │ └── BUILD.gn

可以参考已经存在的用例的目录，比如test\xts\acts\utils_lite\file_hal、test\xts\acts\utils_lite\kv_store_hal、test\xts\acts\startup_lite\bootstrap_hal等等。

3.2 编写用例样例

3.2.1 引用测试框架

hctest.h 文件位于./test/xts/tools/lite/hctest/include/目录，定义了LITE_TEST_SUIT、LITE_TEST_CASE、RUN_TEST_SUITE等测试套件的宏。

#include "hctest.h"

3.2.2 定义子系统、模块、测试套件名称

需要3个参数，分别为子系统名称、子系统的部件名称、测试套件名称。

/**  * @brief  register a test suit named "IntTestSuite"  * @param  test subsystem name  * @param  example module name  * @param  IntTestSuite test suit name  */LITE_TEST_SUIT(test, example, IntTestSuite);

已经存在的示例，可以参考test\xts\acts\utils_lite\kv_store_hal\src\kvstore_func_test.c，为utils子系统的kvStore部件注册KvStoreFuncTestSuite测试套件。

/** * @tc.desc      : register a test suite, this suite is used to test basic flow and interface dependency * @param : subsystem name is utils * @param : module name is kvStore * @param : test suit name is KvStoreFuncTestSuite */LITE_TEST_SUIT(utils, kvStore, KvStoreFuncTestSuite);

3.2.3 定义Setup与TearDown

命名方式：测试套件名称+Setup，测试套件名称+TearDown。Setup与TearDown必须存在，可以为空函数。示例可以参考test\xts\acts\utils_lite\kv_store_hal\src\kvstore_func_test.c，如下：

/** * @tc.setup     : setup for all testcases * @return: setup result, TRUE is success, FALSE is fail */static BOOL KvStoreFuncTestSuiteSetUp(void){    UtilsSetEnv(DATA_PATH);    return TRUE;}/** * @tc.teardown  : teardown for all testcases * @return: teardown result, TRUE is success, FALSE is fail */static BOOL KvStoreFuncTestSuiteTearDown(void){    printf("+-------------------------------------------+\n");    return TRUE;}

3.2.4 使用宏定义LITE_TEST_CASE写测试用例

LITE_TEST_CASE函数宏包括三个参数：测试套件名称，测试用例名称，用例属性（测试类型、用例粒度、用例级别）。示例代码中创建测试用例，名称为TestCase001，属于测试套件IntTestSuite，测试用例属性为功能测试、测试用例粒度为MediumTest，用例级别Level1。

LITE_TEST_CASE(IntTestSuite, TestCase001, Function | MediumTest | Level1) {    //do something };

示例可以参考test\xts\acts\utils_lite\kv_store_hal\src\kvstore_func_test.c，如下，测试套件KvStoreFuncTestSuite中创建测试用例testKvStoreSetValue001，测试kvstore部件的UtilsSetValue和UtilsDeleteValue接口。

/** * @tc.number    : SUB_UTILS_KV_STORE_0100 * @tc.name      : UtilsSetValue parameter legal test * @tc.desc      : [C- SOFTWARE -0200] */LITE_TEST_CASE(KvStoreFuncTestSuite, testKvStoreSetValue001, Function | MediumTest | Level1){    char key[] = "rw.sys.version";    char value[] = "Hello world !";    int ret = UtilsSetValue(key, value);    TEST_ASSERT_EQUAL_INT(0, ret);    ret = UtilsDeleteValue(key);    TEST_ASSERT_EQUAL_INT(0, ret);};

3.2.5 使用宏定义 RUN_TEST_SUITE注册测试套件

RUN_TEST_SUITE(IntTestSuite);

3.3 测试模块的构建配置文件

在每个测试模块目录subsystem_lite/module_hal下新建BUILD.gn编译文件，用于指定编译后静态库的名称、依赖的头文件、依赖的库等；具体写法如下：

import("//test/xts/tools/lite/build/suite_lite.gni")hctest_suite("ActsDemoTest") {    suite_name = "acts"    sources = [ "src/test_demo.c",    ]    include_dirs = [ ]    cflags = [ "-Wno-error" ]}

3.4 acts下BUILD.gn增加编译选项

需要将测试模块加入到acts目录下的编译脚本中，编译脚本路径：test/xts/acts/build_lite/BUILD.gn。

lite_component("acts") {      ...    if(board_name == "liteos_m") { features += [  ...     "//xts/acts/subsystem_lite/module_hal:ActsDemoTest" ] }}

3.4 编译烧录运行

随版本编译，debug版本编译时会同步编译acts测试套件。acts测试套件编译中间件为静态库，最终链接到版本镜像中 。将版本镜像烧录进开发板。重启设备，查看串口日志。每个测试套件执行以Start to run test suite开始，以xx Tests xx Failures xx Ignored结束。

参考站点

参考了下述站点，或者推荐读者阅读下述站点了解更多信息。

• Application compatibility test suite | acts应用兼容性测试套

• hardware abstraction test suite | hats兼容性测试套

• Distributed Compatibility Test Suite 待上线

• Distributed Compatibility Test Suite 待上线

• XTS认证用例开发指导

• 轻量带屏解决方案之恒玄芯片移植案例

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