程序员档案馆

> 有关“划痕”的文章

【基于C# + HALCON的工业视系统开发实战】三、手机屏幕划痕与外壳脏污检测：Halcon频域分析与局部阈值分割实战_halcon脏污检测

摘要：手机制造中，0.1mm级划痕和0.3mm级脏污是影响产品良率的关键缺陷。本文基于C# .NET Core 6与HALCON 24.11，构建高灵敏度缺陷检测系统：通过频域分析...

Bloger 07-30 0 261 技术文档